據悉，2011年日立推出了一款超高分辨率電子顯微鏡SU9000，它是一款冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡，同時其也是目前世界上分辨率[tallest的掃描顯微鏡，次電子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。 

日立SU9000電子顯微鏡相比其他顯微鏡分辨率明顯有很大優(yōu)勢，這是因為此刻顯微鏡采用了全新設計的真空系統(tǒng)和電子光學系統(tǒng)，作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的Flashing操作，可以高效的獲取樣品的超高分辨掃描電鏡照片。

對于金屬納米顆粒來說，隨著比表面積的大小和量子尺寸效果的不同，它們會帶有不同的物理屬性。以此為研究點，金屬納米顆粒在催化劑、發(fā)光材料或納米壓印等多種領域的應用被廣泛期待。其中相對[cheapest的銀銅納米顆粒更能夠降低成本。現在，我們可以使用TEM/STEM法來觀察或控制粒徑。

                上圖即為銀銅納米顆粒的BFSTEM畫像和DFSTEM圖像

從BFSTEM畫像可看出顆粒大小約為10 nm，高對比度觀察下可確認顆粒的分布形式，即2個顆粒相鄰或核-殼型分布。此外，從DFSTEM畫像的Z對比度可看出銀和銅是可以分離存在的。