分析天平知識(shí)大全（分類、原理、使用等）
目錄：
前言
分析天平是定量分析工作中不可缺少的重要儀器，充分了解儀器性能及熟練掌握其使用方法，是獲得可靠分析結(jié)果的保證。下面由小編帶領(lǐng)大家去分析天平知識(shí)的海洋中遨游。
分析天平（Analytical balance）一般是指能[accurate稱量到±0.0001g的天平，也就是常量天平、半微量天平、微量天平和超微量天平的總稱。是比臺(tái)秤更為[accurate的稱量?jī)x器。
常量天平的髙至稱量一般在100至200g，其分度值小于髙至稱量的10的負(fù)5次方。
半微量天平的髙至稱量一般在20至100g，其分度值小于髙至稱量的10的負(fù)5次方。
微量天平的髙至稱量一般在3至50g，其分度值小于髙至稱量的10的負(fù)5次方。
超微量天平的髙至稱量是2至5g，其分度值小于(髙至)稱量的10的負(fù)6次方。
天平是根據(jù)杠桿原理創(chuàng)造的，當(dāng)天平達(dá)平衡時(shí)，物體的質(zhì)量即等于砝碼的質(zhì)量。
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感量的標(biāo)準(zhǔn)名稱是分度值。分度值有兩種，一種是實(shí)際分度值（d），一種是檢定分度值（e）一般所說(shuō)的分度值是實(shí)際分度值，每個(gè)天平的實(shí)際分度值（d）是固定的，不是算出來(lái)的。
檢定分度值（e）是不同的天平有不同的算法，架盤天平的e=d，電子天平一般是e=10d，分析天平分的就更細(xì)了。
分析天平可以分為機(jī)械分析天平、電子分析天平、手動(dòng)式分析天平、全自動(dòng)式分析天平以及電光分析天平等，分析天平雖然多種多樣，但其原理與使用方法基本相同。電子分析天平是化學(xué)實(shí)驗(yàn)室的常用儀器之一。
電子分析天平多采用電磁平衡方式，因稱出的是重量，需要通過(guò)校準(zhǔn)來(lái)消除重力加速度的影響。
1.電子天平為高精度測(cè)量?jī)x器，故儀器安裝位置應(yīng)注意；
2.安裝平臺(tái)要穩(wěn)定、平坦，無(wú)震動(dòng)；
3.要避免安裝在陽(yáng)光直射地，但是環(huán)境不能是濕度大的地方；
4.不能安裝在空氣直接流通的通道上。
分析天平的校正分為兩種一種是內(nèi)校，一種是外校。
1.內(nèi)校步驟
開機(jī)將電子分析天平預(yù)熱，時(shí)間大概在2-3個(gè)小時(shí)之間。
分析天平稱盤沒(méi)有稱量物品時(shí)應(yīng)穩(wěn)定的顯示為零位
按“CAL”鍵，啟動(dòng)天平的內(nèi)部叫校準(zhǔn)功能，稍后電子天平顯示“C”，表示正在進(jìn)行內(nèi)部校準(zhǔn)。
當(dāng)電子天平顯示器顯示為零位時(shí)，說(shuō)明電子天平應(yīng)已經(jīng)校準(zhǔn)完畢
注：如果在校正中出現(xiàn)錯(cuò)誤，電子天平顯示器將顯示“Err”，顯示時(shí)間很短，應(yīng)該重新清零，重新進(jìn)行校正。
2.外校步驟
開機(jī)將電子分析天平預(yù)熱30分鐘以上。
分析天平應(yīng)處于水平狀態(tài)，稱盤沒(méi)有稱量物品時(shí)應(yīng)穩(wěn)定的顯示為零位。
按“CAL”鍵，啟動(dòng)天平的校準(zhǔn)功能，顯示器上顯示外部校正砝碼的重量值
將符合精度要求的標(biāo)準(zhǔn)砝碼放在天平的稱盤上，穩(wěn)定后的顯示值不變時(shí)，說(shuō)明外部的校正工作已經(jīng)完成。
將標(biāo)準(zhǔn)砝碼取出讓分析天平顯示零位處于待用狀態(tài)。
注：如果在校正中出現(xiàn)錯(cuò)誤，電子天平顯示器將顯示“Err”，顯示時(shí)間很短，應(yīng)該重新清零，重新進(jìn)行校正。
3.哪些時(shí)候需要校準(zhǔn)
天平的計(jì)量規(guī)定,一般稱量偏差不要超過(guò)10個(gè)d，超過(guò)時(shí)候要進(jìn)行重新校準(zhǔn)。
至于稱量值與砝碼的標(biāo)準(zhǔn)值差建議(差正負(fù)5個(gè)d)時(shí)應(yīng)該校準(zhǔn)。
天平移動(dòng)位置，天氣溫差變化等都應(yīng)該積極的做校準(zhǔn)。
1．接通電源，打開電源開關(guān)和天平開關(guān)，預(yù)熱至少30分鐘以上。使天平于穩(wěn)定的預(yù)熱狀態(tài)。
2．預(yù)熱時(shí)間要求：萬(wàn)分之一電子天平需預(yù)熱1小時(shí)，千分之一預(yù)熱半小時(shí)，其他低精度的一般預(yù)熱十幾分鐘。
3．校準(zhǔn)過(guò)后進(jìn)行參數(shù)選擇：輕輕按一下天平面控制上的開關(guān)鍵，天平即開啟，并顯示0.0000，直至出現(xiàn)Int-x-后立即松開，并立即輕輕按一下即可選擇積分時(shí)間，選擇積分時(shí)間。選好后，再按住開關(guān)不松開直到出現(xiàn)Asd-x-后立即松開，并立即輕輕按動(dòng)即可選擇穩(wěn)定度，以上兩參數(shù)選好后，如無(wú)必要可不再改變，每次開啟后即執(zhí)行選定參數(shù)。
4．天平自檢：電子天平設(shè)有自檢功能，進(jìn)行自檢時(shí)，天平顯示“CAL……”稍待片刻，閃顯“100”，此時(shí)應(yīng)將天平自身配備的100g標(biāo)準(zhǔn)砝碼輕推入，天平即開始自校，片刻后顯示100.0000，繼后顯“0”，此時(shí)應(yīng)將100g標(biāo)準(zhǔn)砝碼拉回，片刻后天平顯示00.0000;天平自檢完畢，即可稱量。
5．放入被稱物：將被稱物預(yù)先放置使與天平室的溫度一致，必要時(shí)先用臺(tái)式天平稱出被稱物大約重量。開啟天平側(cè)門，將被稱物置于天平載物盤中央，放入被稱物時(shí)應(yīng)戴手套或用帶橡皮套的鑷子鑷取，不應(yīng)直接用手接觸。并且必須輕拿輕放。
6．去皮稱量：按TAR鍵清零，置容器于稱盤上，天平顯示容器質(zhì)量，再按TAR鍵，顯示零，即去除皮重。再置稱量物于容器中，待顯示器左下角“0”消失，這時(shí)顯示的是稱量物的凈質(zhì)量。
7．讀數(shù)：天平自動(dòng)顯示被測(cè)物質(zhì)的重量，等穩(wěn)定后(顯示屏左側(cè)亮點(diǎn)消失)即可讀數(shù)并記錄。
讀數(shù)由兩部分組成，一部分是添加的砝碼值，一部分是屏幕上的刻度值。等天平穩(wěn)定后，被稱物體的質(zhì)量應(yīng)該是三個(gè)加碼器刻度盤上的數(shù)值加起來(lái)，再看刻度，如果是正數(shù)就再加上刻度值，如果是負(fù)數(shù)就用砝碼值減去刻度值，[much]后得出來(lái)的就是質(zhì)量值。
1.天平箱內(nèi)應(yīng)保持清潔。
2.稱量的樣品不得直接放在天平盤上，以免污染儀器。
3.不要在天平上稱量熱的或散發(fā)腐蝕性氣體的物質(zhì)。
4.稱量揮發(fā)性、腐蝕性、強(qiáng)酸強(qiáng)堿類物質(zhì)應(yīng)盛于帶蓋稱量瓶?jī)?nèi)，防止腐蝕天平。
5.稱量物體不得超過(guò)天平的載荷。
6.開關(guān)天平要輕緩，以免震動(dòng)損壞天平的刀口。
1.事先檢查電源電壓是否匹配，必要時(shí)配置穩(wěn)壓器。
2.稱量時(shí)應(yīng)從側(cè)門取放物質(zhì)，讀數(shù)時(shí)應(yīng)關(guān)閉箱門以免空氣流動(dòng)引起天平擺動(dòng)。
3.前門僅在檢修或清除殘留物質(zhì)時(shí)使用。
4.電子分析天平若長(zhǎng)時(shí)間不使用，則應(yīng)定時(shí)通電預(yù)熱，每周一次，每次預(yù)熱2h，以確保儀器始終處于良好使用狀態(tài)。
5.經(jīng)常對(duì)電子天平進(jìn)行自校或定期外校，保證其處于理想中狀態(tài)。
6.天平箱內(nèi)應(yīng)放置吸潮劑（如硅膠），當(dāng)吸潮劑吸水變色，應(yīng)立即高溫烘烤更換，以確保吸濕性能。
7.秤盤和外殼可以用軟布輕輕擦凈，切不可用強(qiáng)溶劑擦洗。
8.防止超載，注意被稱物體的質(zhì)量應(yīng)在天平的髙至載量以內(nèi)，分析天平大多都有保護(hù)裝置，但超載可能會(huì)損壞天平。
1.測(cè)量前先用標(biāo)準(zhǔn)砝碼校正，根據(jù)不種正確度等級(jí)的電平選用不同等級(jí)的砝碼。
2.應(yīng)在加載后固定的時(shí)間讀數(shù)。
3.多次測(cè)量，取其平均值(3~5次)。
1.無(wú)法開機(jī)
先確定非保險(xiǎn)絲、電源開關(guān)、電源線及電壓切換開關(guān)的問(wèn)題所造成，檢查變壓器有無(wú)交流電壓輸入及交流電輸出。如果儀表帶有電池將電池取下再以AC電源開機(jī)，以了解是否為電池電壓不足所造成。其次再檢測(cè)整流電路、穩(wěn)壓電路以及顯示驅(qū)動(dòng)電路是否出現(xiàn)異常，如果這些都沒(méi)問(wèn)題檢查處理器及附屬電路是否燒壞。
2.按鍵不好用
先更換新按鍵進(jìn)行測(cè)試，如新按鍵功能正常時(shí)，則可判定為按鍵接觸不良，測(cè)量按鍵與CPU之間線路有無(wú)斷路、虛焊。檢查按鍵支座是否有接觸不良現(xiàn)象。測(cè)量按鍵與CPU回路上的二極管、電阻等是否有短路、斷路的情況。
3.稱量不[accuracy]
觀測(cè)內(nèi)碼值是否穩(wěn)定，傳感器各部位是否有摩擦現(xiàn)象，穩(wěn)壓電源是否穩(wěn)定，運(yùn)放電路是否正常，使用砝碼測(cè)試秤盤四腳秤量是否平均。依照說(shuō)明書指示，進(jìn)一步做儀表局部分析或重新校正。
4.稱重物移除后無(wú)法回到零點(diǎn)
檢查傳感器輸出信號(hào)值是否于標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)，如果信號(hào)值未在標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)，調(diào)節(jié)傳感器可調(diào)電阻，將信號(hào)值調(diào)到標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)，如無(wú)法補(bǔ)償請(qǐng)檢查傳感器是否有問(wèn)題，在保證傳感器輸出正常(秤體穩(wěn)定)情況下，鎖定儀表故障，一般是放大電路及A/D轉(zhuǎn)換電路發(fā)生問(wèn)題，再依據(jù)電路原理逐一判斷測(cè)試分析，以[much]終解決問(wèn)題。
5.顯示亂碼
將原來(lái)的顯示電路拆下，換一個(gè)正常的顯示電路看是否正常。如果顯示正常說(shuō)明顯示電路出現(xiàn)問(wèn)題，如果不正常，應(yīng)檢查驅(qū)動(dòng)電路是否有故障，[much]后檢查處理器顯示輸出的引腳是否在合理的輸出范圍。
6.無(wú)法稱到滿載
和無(wú)法回零的情況差不多，多數(shù)可能由于小信號(hào)輸入范圍發(fā)生了改變。
7.指針跳動(dòng)
當(dāng)橫梁被托起時(shí)，如支點(diǎn)刀的刀口與刀墊間前后距離不等，則開啟天平時(shí)，會(huì)產(chǎn)生指針跳動(dòng)，可把橫托架左臂前的螺絲放松，然后用手捻調(diào)節(jié)小支柱的高度，直至指針不再跳動(dòng)。
賽多利斯、梅特勒、日本島津、奧豪斯等，國(guó)內(nèi)的精科、恒平等。
1.賽多利斯：賽多利斯成立于1870年，是世界著名的過(guò)程技術(shù)和實(shí)驗(yàn)室儀器的供應(yīng)商，是稱量技術(shù)、生物技術(shù)的市場(chǎng)領(lǐng)導(dǎo)者。被譽(yù)為世界天平之父。
2.梅特勒：1945年，歐萊德·梅特勒博士發(fā)明了令世界矚目的首臺(tái)單秤盤替代法天平，并在1973年，推出了世界上全電子精密天平——PT1200，引發(fā)了全球天平的技術(shù)革命。
3.日本島津：島津公司自1875年創(chuàng)業(yè)以分析測(cè)試儀器、醫(yī)療儀器、航空產(chǎn)業(yè)機(jī)械等為核心技術(shù)基礎(chǔ)發(fā)展至今嫣然在這些行業(yè)中成為了領(lǐng)軍者。
1.首先考慮電子天平精度是否滿足測(cè)量精度要求，天平精度太低不能滿足測(cè)量要求，天平精度過(guò)高會(huì)增加購(gòu)置費(fèi)用。因此，應(yīng)選擇能滿足自己測(cè)量工作的精度即可。
2.結(jié)合不同使用場(chǎng)合來(lái)選購(gòu)不同的電子天平。一般在實(shí)驗(yàn)室使用，環(huán)境條件較好，在滿足精度稱量的條件下，可選購(gòu)檔次較高、性能較好的天平。在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)或野外流動(dòng)性的場(chǎng)所，一般環(huán)境條件較差，這時(shí)可選購(gòu)基本能滿足工作要求、價(jià)格相對(duì)[cheapest一點(diǎn)的抵擋或簡(jiǎn)易天平。
3.優(yōu)良的性價(jià)比，避免過(guò)度消費(fèi)。在產(chǎn)品質(zhì)量有保證，性能基本一致的情況下，更優(yōu)惠的價(jià)格才能保證單位或個(gè)人的資金使用效率。
4.年均使用費(fèi)用包括自然損耗及維修費(fèi)用。
5.對(duì)操作人員的兼容性和對(duì)操作環(huán)境的耐受能力。
6.產(chǎn)品的售后服務(wù)及功能拓展。盡可能避免質(zhì)量問(wèn)題，如果出現(xiàn)質(zhì)量問(wèn)題或需要功能拓展，經(jīng)典廠家能提供及時(shí)周到的服務(wù)。
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